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磁阻法测厚仪 导磁材料表面非导磁覆盖层厚度仪器 快速无损磁阻法测量仪
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型号:BXS10-HCC-24

更新时间:2024-11-24  |  阅读:2044

详情介绍

磁阻法测厚仪  导磁材料表面非导磁覆盖层厚度仪  快速无损磁阻法测量仪 

型号:BXS10-HCC-24

可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚 度。例如:铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。由于集成电路和微处理器的应用,使本仪器具有操作简 单、使用方便、稳定性好、测量精度高的优点。仪器具有数理统计功能,可直接显示测量的平均值、zui大值、zui小 值、标准偏差及测量次数等统计数据。

磁阻法测厚仪 采用电磁感应原理进行测量,符合标准 ISO2178和国家标准GB4956。当探头与覆盖层接触时,探头和磁性基体构成一闭合磁回路,由于非磁性覆盖层存在, 使磁路磁阻增加,磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。通过对磁阻的测量,经电脑进行分析处理,由液晶显示器直接 显示出测量值

磁阻法测厚仪 技术参数

1)测量范围: 0μm~1200μm。

2) 示值误差: ± (1~3%H+1μm) , H为被测涂层厚 度。

3)分 辨 率: 1μm。

4)zui小测量面的直径: φ10 mm。

5)显 示: 4位LCD显示测量的平均值、zui大值、zui小值、标准偏差和测量次数,同时指示仪器的工作状态及电池使用情况。

6) 电 源:一节6F22型9V电池。

7) 外形尺寸: 160mm×80mm×30mm。

8) 质 量:约250g。

9)使用环境:温度0℃~40℃;相对湿度不大于90%。

 

北京北信科仪分析仪器有限公司

地址:北京市昌平区西三旗龙旗广场2号楼

:李

 

http://www.bxequ.com

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