硅片缺陷观测仪 硅片划痕崩边测定仪 硅片位错层错检测仪

型号JC06-WDI

硅片缺陷观测仪于对硅片的缺陷进行观察，效果非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。

实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；

硅片缺陷观测仪-产品特点

适用于对硅片的缺陷观察效果，非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等；

使硅片缺陷观察工作简单化，准确化，同时极大程度降低此项工作强度；

实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；

使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有体积小，技术*，像素较高， 成像清晰 、线条细腻、色彩丰富；

传输接口为 USB2.0 高速接口， 软件模块化设计 ；

有效分辨率为 200 万像素；

所配软件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系统。

北京北信科仪分析仪器有限公司

地址：北京市昌平区西三旗龙旗广场2号楼

：李

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