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便携式四探针电阻率测试仪 便携式四探针电阻率分析仪 便携式四探针电阻率检测
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型号:DL04-KDY-1A

更新时间:2024-03-31  |  阅读:2279

详情介绍

便携式四探针电阻率测试仪 便携式四探针电阻率测量仪 便携式四探针电阻率检测

型号:DL04-KDY-1A

概述

便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

本仪器按照半导体材料电阻率的及国家标准测试方法有关规定设计。

它主要由电器测量部份(主机)及四探头组成,需要时可加配测试架。

为减小体积,本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%,在此范围内达到国家标准一级机的水平。

测量范围:

可测量 电阻率:0.01199.9Ω•cm

可测方块电阻:0.11999Ω/

当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00

2)恒流源:

输出电流:DC 0.1mA10mA分两档

10mA量程:0.11mA 连续可调

10mA量程:1mA 10mA连续可调

恒流精度:各档均优于±0.1%

适合测量各种厚度的硅片

3 直流数字电压表

测量范围:0199.9mv

灵敏度:100μv

准确度:0.2%(±2个字)

4 供电电源:

AC220V ±10% 50/60HZ 功率8W

5 使用环境:

相对湿度≤80%

6 重量、体积

重量:2.2 公斤

体积:宽210×高100×深240mm

(7)KD探针头

压痕直径:30/50μm

间距:1.00mm

探针合力:8±1N

针材:TC

 

 

北京北信科仪分析仪器有限公司

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:李

 

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